- 聯(lián)系人 : 車高平 肖吉盛
- 聯(lián)系電話 : 0532-88365027
- 傳真 : 0532-88319127
- 移動(dòng)電話 : 13608980122
- 地址 : 青島南京路27號(hào)
- Email : 88365027@163.com
- 郵編 : 266700
- 公司網(wǎng)址 : http://cuangai.cn
- MSN : 88365027@163.com
- QQ : 1265377928
HN11C高壓開關(guān)綜合測(cè)試儀高壓開關(guān)動(dòng)特性測(cè)試儀 HN11C系列 剩余電流測(cè)試儀 價(jià)格實(shí)惠
一、功能特點(diǎn)
測(cè)試指標(biāo):可測(cè)試國產(chǎn)(進(jìn)口)真空、六氟化硫、油高壓斷路器,負(fù)荷開關(guān)、GIS接地刀閘開關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。
抗擾通道:可抵御550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電干擾!但這里的浪涌電壓是指明工作電壓為220V交流進(jìn)入的,如果工作電壓較低則不能以此為標(biāo)準(zhǔn),電源線上受較小的浪涌沖擊不一定立即損壞設(shè)備,但至少壽命有影響。接地端口盡管在標(biāo)準(zhǔn)中沒有專門提到接地端口的指標(biāo),實(shí)際上信息技術(shù)設(shè)備地端口是非常重要的。在雷電發(fā)生時(shí)接地端口有可能受到地電位反擊、地電位升高影響,或者由于接地、接地不當(dāng)使地阻過大達(dá)不到參考電位要求使設(shè)備損壞。接地端口不僅對(duì)接地電阻/接地線極(長度、直徑、材料)、接地方式、地網(wǎng)的設(shè)置等有要求,而且還與設(shè)備的電特性、工作頻段、工作環(huán)境等有直接的關(guān)系。
位移通道:1路位移信號(hào)采集,適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。
同步觸發(fā):可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無電位接點(diǎn)操作控制模塊,無彈跳接點(diǎn),接點(diǎn)開斷容量: 30A,250V(AC/DC)
操作界面:5.7″黑白液晶屏,菜單式操作,并在面板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器,傳感器安裝迅速、快捷、簡單;同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器;并配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架;但是亮斑處不是引起報(bào)警的源頭,因?yàn)樘絺麑?duì)偏析的信號(hào)響應(yīng)很弱。進(jìn)一步磨拋進(jìn)行500倍高倍解剖部位,將高倍放大到500倍,發(fā)現(xiàn)亮斑中心處有微小缺陷,見下圖。圖500倍顯微組織發(fā)現(xiàn)微小裂紋。我們認(rèn)為該缺陷才是引起探傷儀器報(bào)警的信號(hào)源。該缺陷粗略應(yīng)該是氣孔,由于在后續(xù)的鍛造、精緞加工過程中形變成線狀缺陷。但是后定性必須以電鏡和能譜作為參考依據(jù)。當(dāng)量大小,由下公式換算:平底孔和長橫孔換算:從上面公式可以看出,當(dāng)檢測(cè)φ1.2平底孔換算成橫截面同當(dāng)量的長橫孔為0.08mm當(dāng)量。
速度定義:提供了常用的開關(guān)速度定義庫和可編輯速度定義庫兩種模式可供用戶自行選擇。
錄波功能:12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流;行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫功能,測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫斷路器型號(hào),無需特別設(shè)置
U盤存儲(chǔ):可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤,直接用上位機(jī)軟件打開。
在線幫助:儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無說明書就能簡單使用。微分結(jié)構(gòu)函數(shù)中,波峰與波谷的拐點(diǎn)就是兩種結(jié)構(gòu)的分界處,便于識(shí)別器件內(nèi)部的各層結(jié)構(gòu)。在結(jié)構(gòu)函數(shù)的末端,其值趨向于一條垂直的漸近線,此時(shí)代表熱流傳導(dǎo)到了空氣層,由于空氣的體積無窮大,因此熱容也就無窮大。從原點(diǎn)到這條漸近線之間的x值就是結(jié)區(qū)到空氣環(huán)境的熱阻,也就是穩(wěn)態(tài)情況下的熱阻。利用結(jié)構(gòu)函數(shù)識(shí)別器件封裝內(nèi)部的“缺陷”:對(duì)比上面兩個(gè)器件的剖面結(jié)構(gòu),固晶層可見明顯差異。如下圖,左邊為正常產(chǎn)品,右邊為固晶層有缺陷的產(chǎn)品。