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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做
冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

四線測(cè)量四線電阻測(cè)量非常適合用于測(cè)量低阻值的電阻,因?yàn)镈MM能夠消除引線的影響,而無(wú)需訴諸相對(duì)功能。校正是完全自動(dòng)的。在四線測(cè)量中,V+和V-端子仍通過(guò)測(cè)試導(dǎo)線將電流提供給電阻器。V+和V-兩端的電壓降由引線電阻和被測(cè)電阻的總和決定。感測(cè)線連接到電阻器的端子,并測(cè)量電阻器兩端的電壓,它不包括測(cè)試引線(或用于將DMM連接到UUT的開(kāi)關(guān)系統(tǒng))兩端的電壓,并且電壓表的輸入阻抗足夠高,不會(huì)導(dǎo)通任何電流或不會(huì)從Rlead產(chǎn)生誤差電壓。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。testo89紅外熱成像儀因其高熱靈敏度、高分辨率、德圖的濕度成像功能,順利完成檢測(cè)任務(wù)。解決方案德圖專家來(lái)到洞窟后,對(duì)現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估。洞內(nèi)的石像在古代依山開(kāi)鑿而成,歷經(jīng)朝代更迭,石像表面進(jìn)行了泥塑彩繪并以這樣的姿態(tài)流傳現(xiàn)今。此次,針對(duì)此類石窟石像,有三個(gè)檢測(cè)目標(biāo):發(fā)現(xiàn)裂紋檢測(cè)佛像表面的泥塑裂紋,使得修復(fù)專家盡早發(fā)現(xiàn)并著手修復(fù)。當(dāng)泥塑的裂紋擴(kuò)大到肉眼可見(jiàn)甚至開(kāi)始脫落時(shí),石像的修復(fù)難度就越大。佛像均有十幾米高,近距離檢查佛像本體十分不便。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

經(jīng)過(guò)幾年的進(jìn)化,新一代毫米波安檢的方向已經(jīng)更加明朗。早期有些產(chǎn)品用少量的射頻單元,機(jī)械方式移動(dòng)掃描。新一代產(chǎn)品則使用固定方式進(jìn)行測(cè)試。得益于工藝進(jìn)步和計(jì)算機(jī)運(yùn)算的飛速發(fā)展,儀器內(nèi)也大量引入新的信號(hào)處理技術(shù),人工智能算法等。這些方向保證了系統(tǒng)更加穩(wěn)定,識(shí)別能力更強(qiáng)。圖1RSQPS201毫米波快速安檢儀近一兩年,新儀器的普及進(jìn)入了快速發(fā)展期,世界多個(gè)主要城市機(jī)場(chǎng)陸續(xù)大量啟用了新一代毫米波安檢儀,包括美國(guó)、英國(guó)、德國(guó)、法國(guó)、澳大利亞機(jī)場(chǎng)等,從今年啟動(dòng)并估計(jì)在未來(lái)幾年里會(huì)大量啟用毫米波安檢儀。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。印刷電路板(PCB)是集成電子元器件的信息載體,在電子領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用,其質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的性能。在PCB制造過(guò)程中,PCB上的元器件安裝普遍采用表面貼片安裝技術(shù)。隨著電子科技技術(shù)的發(fā)展和電子制造業(yè)的發(fā)展,電子產(chǎn)品趨于更輕、更小、更薄化。PCB板作為現(xiàn)代電子設(shè)備的重要組成部分,由于貼片元器件體積小,安裝密度大,這就要求PCB板的集成度進(jìn)一步提高。為了保證電子產(chǎn)品的性能,PCB板缺陷檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)成為電子行業(yè)中非常關(guān)鍵的技術(shù)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 彈針式和接地引線提供了垂直順性,確保了有效接觸,而不產(chǎn)生不適當(dāng)?shù)臋C(jī)械壓力。除了在處之處,IC是絕緣的,旨在防止相鄰的IC引腳意外短路。彎曲非常適合在相鄰元器件下方進(jìn)行探測(cè),適用于必須與板保持平行的應(yīng)用。方針適配器傳送信號(hào)和接地引線,采用標(biāo)準(zhǔn)的2.54mm引腳間距。接地引線包括窄型和寬型接地片。接地片具有低電感接地連接的優(yōu)點(diǎn)。它們通常與銅墊配合使用。銅墊背側(cè)具有粘性,粘貼到IC上。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 定制定做


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