HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 青島華能生產(chǎn)三路JP櫃溫升試驗裝置 用心品質(zhì) 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗的要求。FPGA方法一般成本較高，但如果項目需要大量定製邏輯，這就是一種高成本效益的方法。這些器件對於構(gòu)建ASI小批量產(chǎn)品的原型而言價值。這類應(yīng)用的上市時間至關(guān)重要，而較大型產(chǎn)品需要持續(xù)的硬件靈活性。微控製器搭配邏輯與FPGA搭配CPU，這兩種器件類型都能為現(xiàn)場提供硬件靈活性。一旦基於閃存的器件成為常規(guī)，現(xiàn)場升級就會成為標(biāo)準(zhǔn)。早設(shè)計人員隻能夠升級固件，但現(xiàn)在硬件（邏輯）和固件都能夠在現(xiàn)場輕鬆實現(xiàn)升級。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

為什麼經(jīng)驗老道的工程師都要在測試前調(diào)整一下的檔位呢？不同檔位除了輸入阻抗、帶寬、上升時間等不同之外，還有個很重要的參數(shù)是輸入電容，它對於被測信號究竟有多大的影響？的輸入電容對於高頻信號有很大的影響，信號頻率越高，影響也就越大，具體有何影響呢？負(fù)載效應(yīng)簡單來說，的負(fù)載效應(yīng)就是在用測電路中的其中兩點的波形時，在兩個測試點中接入了一個負(fù)載，而這個負(fù)載的大小，會直接影響電路的狀態(tài)，造成測量結(jié)果的不正確性。

具備供電電源三相輸入電壓、輸入電流顯示功能

具備試驗過程記錄功能（持續(xù)記錄輸出電壓、輸出電流相關(guān)數(shù)據(jù)）

具備試驗結(jié)果自動計算功能

具備傳輸後編輯報告生成功能

具備全自動測試與手動測試兩種方法，全自動測試時隻需簡單設(shè)置試驗電流、時間、記錄步長即可，帶自動穩(wěn)流係統(tǒng)。係統(tǒng)跟蹤目標(biāo)電流，自動調(diào)整、平衡三相輸出電壓、電流，並可自動記錄電流、電壓數(shù)據(jù)，。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）