HN11C高壓開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試儀高壓開(kāi)關(guān)儀 HN11C係列 漏電保護(hù)器測(cè)試儀 生產(chǎn)廠家
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開(kāi)關(guān)、GIS接地刀閘開(kāi)關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開(kāi)關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵禦550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電乾擾！機(jī)械衝擊：過(guò)大的衝擊轉(zhuǎn)矩往往造成電機(jī)籠條，端環(huán)斷裂和定子端繞組絕緣破損，導(dǎo)致?lián)舸龣C(jī)，轉(zhuǎn)軸扭曲，聯(lián)軸節(jié)、傳動(dòng)齒輪損傷和皮帶撕裂等；3.對(duì)生產(chǎn)機(jī)械造成衝擊：起動(dòng)過(guò)程中的壓力突變往往造成泵係統(tǒng)管道、閥門(mén)的損傷，縮短使用壽命；影響傳動(dòng)精度，甚至影響正常的過(guò)程控製。所有這些都給設(shè)備的**可靠運(yùn)行帶來(lái)威脅，同時(shí)也造成過(guò)大的起動(dòng)能量損耗，尤其當(dāng)頻繁起停時(shí)更是如此。為避免對(duì)電網(wǎng)和設(shè)備造成嚴(yán)重影響，大功率電機(jī)在啟動(dòng)時(shí)一般采用如下兩種方式。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控製模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開(kāi)斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界麵：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，並在麵板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；並配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；也就是說(shuō)，隻要振鈴、過(guò)衝和地電平不導(dǎo)致邏輯跳變，那麼這些模擬特點(diǎn)對(duì)MSO就不是問(wèn)題。與邏輯儀一樣，MSO使用門(mén)限電壓，確定信號(hào)是邏輯值高還是邏輯值低。MSO4係列可以為每條通道立設(shè)置門(mén)限，適合調(diào)試帶有混合邏輯家族的電路。MSO4在其中一個(gè)數(shù)字適配夾上測(cè)量五個(gè)邏輯信號(hào)，它同時(shí)測(cè)量三個(gè)TTL(晶體管-晶體管邏輯)信號(hào)和兩個(gè)LVPECL(低壓正發(fā)射器-耦合邏輯)信號(hào)。MSO2和MSO3係列則為每個(gè)適配夾設(shè)置門(mén)限(一組8條通道)，因此TTL信號(hào)將位於個(gè)適配夾上，而LVPECL信號(hào)則位於個(gè)適配夾上。

速度定義：提供了常用的開(kāi)關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特彆設(shè)置

U盤(pán)存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤(pán)，直接用上位機(jī)軟件打開(kāi)。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書(shū)就能簡(jiǎn)單使用。不確定性是始終存在的，對(duì)誤差來(lái)源的評(píng)估可以幫助確定測(cè)量的不確定度。除上述外，還有一些相關(guān)術(shù)語(yǔ)在依據(jù)美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（NIST）或其它標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)的說(shuō)明文件來(lái)描繪性能時(shí)會(huì)有用?？擅枋鲂允潜ＷC所有的測(cè)量器件有一個(gè)共同的基準(zhǔn)所必須的。所謂“規(guī)範(fàn)”是指保證性能由校準(zhǔn)溯源到NIST的測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生?！暗湫汀蓖馕吨阅苁菧y(cè)試，但不包括測(cè)量不確定因素?！跋笳餍浴钡谋憩F(xiàn)通常是補(bǔ)充信息，不是在每個(gè)儀器上的普遍測(cè)量。