HN11C高壓開關(guān)綜合測試儀高壓開關(guān)儀 HN11C係列 高壓開關(guān)操作電源 廠家發(fā)貨
一、功能特點(diǎn) 

測試指標(biāo)：可測試國產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開關(guān)、GIS接地刀閘開關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開關(guān)等。合、分閘時間、同期、彈跳時間、次數(shù)、自動重合閘、行程、速度、電流、動作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵禦550KV變電所現(xiàn)場靜電乾擾！在某些要求傳感器能長期使用而又不能輕易更換或標(biāo)定的場合，所選用的傳感器穩(wěn)定性要求更嚴(yán)格，要能夠經(jīng)受住長時間的考驗(yàn)。線性範(fàn)圍傳感器的線形範(fàn)圍是指輸出與輸入成正比的範(fàn)圍。以理論上講，在此範(fàn)圍內(nèi)，靈敏度保持定值。傳感器的線性範(fàn)圍越寬，則其量程越大，並且能保證一定的測量精度。在選擇傳感器時，當(dāng)傳感器的種類確定以後要看其量程是否滿足要求。但實(shí)際上，任何傳感器都不能保證的線性，其線性度也是相對的。當(dāng)所要求測量精度比較低時，在一定的範(fàn)圍內(nèi)，可將非線性誤差較小的傳感器近似看作線性的，這會給測量帶來的方便。

位移通道：1路位移信號采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無電位接點(diǎn)操作控製模塊，無彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界麵：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，並在麵板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡單；同時也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；並配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測試支架；半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

速度定義：提供了常用的開關(guān)速度定義庫和可編輯速度定義庫兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時間波形。具有斷路器型號庫功能，測試時可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫斷路器型號，無需特彆設(shè)置

U盤存儲：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲到U盤，直接用上位機(jī)軟件打開。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測試操作幫助。無說明書就能簡單使用。IT6400無論從精度還是爬升速度上，均能很好的匹配國標(biāo)中的指標(biāo)要求。**氣囊從觸發(fā)，到充氣膨脹，再到駕駛員頭部陷入氣囊，直至氣囊被壓扁的全過程不超過110ms。IT6400係列電源擁有高達(dá)1nA的解析度，小於20us的超快動態(tài)相應(yīng)時間，設(shè)計(jì)的速度切換模式可讓電壓或電流的上升波形高速無過衝，上升時間快可達(dá)150us，同時，用戶還可通過波形顯示功能實(shí)現(xiàn)示波器的體驗(yàn)，讓測試更加簡便。