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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6純度分析儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6純度分析儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀sf6純度儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量
sf6純度儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

放電測試則需要電池在不同的溫度下進(jìn)行,記錄電池的容量。測試產(chǎn)品:可穿戴環(huán)形手表測試儀器:IT6412雙通道雙極性直流電源測試方法:lT6412可同時(shí)進(jìn)行充放電,可觀測電池的電壓、電流和電池已充電容量,麵板顯示相應(yīng)曲線。鋰離子電池充放電循環(huán)測試特性見圖所示IT64適用於電池供電的智能硬件設(shè)備的測試,包括電池充電、電池放電、電池模擬三種模式。為此可用IT64係列可編程直流電源替代電池,為智能設(shè)備供電,通過電池模擬功能來模擬電池的輸出特性,測試待測物的待機(jī)能力,或者測試充電器的充電能力。sf6純度儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。環(huán)境試驗(yàn)一般隻對小部分產(chǎn)品進(jìn)行,常見的環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容和方法如下:溫度試驗(yàn)用以檢查溫度環(huán)境對儀器儀表的影響,確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性,它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲存試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)用以檢查高溫環(huán)境對儀器儀表的影響,確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性。它包括高溫負(fù)荷試驗(yàn)和高溫儲存試驗(yàn)。低溫試驗(yàn)用以檢查低溫環(huán)境對儀器儀表的影響,確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性。sf6純度儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量後,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

一波形累積如果檢測信號擁有明顯的周期特性以及穩(wěn)定的觸發(fā)條件,那麼在示波記錄儀的顯示屏幕上,波形將一幀幀穩(wěn)定繪製,我們可以利用波形穩(wěn)定觸發(fā)這個(gè)特性,在顯示中啟動(dòng)波形的累積功能,並將累積計(jì)數(shù)設(shè)置為無限,即可在波形的長時(shí)間采樣中,對於觸發(fā)後的波形將不再進(jìn)行清屏,而是一層層的疊加繪製。不用擔(dān)心因?yàn)樗⑿侣蔬^快而錯(cuò)過異常的波形。觀測到異常波形現(xiàn)象後,可以通過曆史統(tǒng)計(jì)等功能到異常幀。ZDL6示波記錄儀多支持5條曆史記錄,可以定義事件進(jìn)行二次查找和存儲。sf6純度儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。典型的高速背板互連係統(tǒng)高速背板互連測試概述數(shù)字通信係統(tǒng)在較低的信號速率時(shí),這些互連的電長度很短,驅(qū)動(dòng)器和接收機(jī)一般是導(dǎo)致信號完整性問題的主要因素。但隨著時(shí)鐘速率、總線速率及鏈路速率突破每秒千兆大關(guān),物理層特性測試正變得日益關(guān)鍵。時(shí)域一般用來描述這些物理層結(jié)構(gòu)的特征,但通常情況下,設(shè)計(jì)人員在測試時(shí)往往隻考慮器件工作在其被期望的工作模式上時(shí)的情況。為了獲得一個(gè)完整的時(shí)域信息,必須要測試反射和傳輸(TDR和TDT)中的階躍和脈衝相應(yīng)。sf6純度儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 當(dāng)輸出電壓Uout降低時(shí),基準(zhǔn)電壓與取樣電壓的差值增加,比較放大器輸出的驅(qū)動(dòng)電流增加,串聯(lián)調(diào)整管壓降減小,從而使輸出電壓升高。相反,若輸出電壓Uout超過所需要的設(shè)定值,比較放大器輸出的前驅(qū)動(dòng)電流減小,從而使輸出電壓降低。供電過程中,輸出電壓校正連續(xù)進(jìn)行,調(diào)整時(shí)間隻受比較放大器和串聯(lián)調(diào)整管回路反應(yīng)速度的限製。環(huán)路內(nèi)的負(fù)反饋總是強(qiáng)製比較放大器調(diào)節(jié)輸入兩端的電壓使其相等。LDO的效率不高,下表是3.3v的LDO量得的數(shù)據(jù)。sf6純度儀 氣體抽真空充放裝置 sf6檢漏儀 高質(zhì)量


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