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HN2016智能sf6微水測試儀sf6微量水分測試儀 SF6氣體回收裝置 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗
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露點 |
測量範圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測量時間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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關(guān)於科技未來發(fā)展趨勢的10個定律，其中第九條是人工智能學(xué)家AIE實驗室的研究成果。這些規(guī)律對判斷科技未來發(fā)展趨勢從不同角度發(fā)揮著作用。從1969年互聯(lián)網(wǎng)誕生以來，互聯(lián)網(wǎng)發(fā)生了翻天覆地的變化，新的應(yīng)用不斷出現(xiàn)，從早期的線路，大型計算機，電子郵件，ftp，BBS，到今天的智能，搜索引擎，社交網(wǎng)絡(luò)，在繁雜的互聯(lián)網(wǎng)現(xiàn)象背後，到底有冇有規(guī)律可循，本文列出了10個關(guān)於科技未來發(fā)展趨勢的定律和理論，其中來自的有一個，這些理論定律是否科學(xué)或者是否成立，也仍然需要得到時間的檢驗和專家的評議。
1、連接SF6設(shè)備
將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手擰緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好，用扳手擰緊；
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關(guān)機充電後繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF6露點。
設(shè)備測量時間需要5～10分鐘，其後每臺設(shè)備需要3～5分鐘。
4、存儲數(shù)據(jù)
設(shè)備測量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。從事件表我們看到，幀CAN-FD的位置在-12.479ms，也就是在內(nèi)存數(shù)據(jù)的開端，已經(jīng)達到了全內(nèi)存。當然這種功能強大的全內(nèi)存也是受一定條件約束的，我們在下麵的內(nèi)容中會提到。係統(tǒng)會判斷情況新特性是基於保持原來速度，儘量拓寬範圍的思想設(shè)計出來的。這意味著，對於大數(shù)據(jù)量的，是基於一定比例的樣本點抽取後進行的(用於的數(shù)據(jù)量越少，越快)。係統(tǒng)會根據(jù)抽點的情況，與協(xié)議的特點(波特率等)比較，判斷是否存在風(fēng)險(錯誤或不能的風(fēng)險)。
5、測量其他設(shè)備
一臺設(shè)備測量後，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。
6、測量結(jié)束
所有設(shè)備測量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。
，在測量電阻時，四線製測試法往往比兩線製測試法結(jié)果更。Fluke5係列的測試表筆就是采用了四線製測試的設(shè)計，但僅憑外觀判斷，不少工程師會誤以為這是兩線製測試的表筆，今天小福就帶大家來揭秘Fluke5係列蓄電池內(nèi)阻測試儀表筆暗藏的~簡單科普一下兩線製測試和四線製測試的區(qū)彆：兩線製測試原理：如下圖所示，此種連接方式即為典型的兩線製測試。其中被測電阻為Rb，兩根導(dǎo)線的饋線電阻分彆為R1和R2，利用已知的I及V12，即可得到結(jié)果，但結(jié)果R=(R1+R2+Rb)，包含了饋線電阻，阻值比實際偏大。
1、保存數(shù)據(jù)
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁麵，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設(shè)備進行編號。
設(shè)備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。以雙路輸出為例，若主路帶滿載，而輔路帶額定負載10%以下，將導(dǎo)致輔路輸出電壓比起額定值高出較多；若主路帶額定負載10%以下，而輔路帶滿載，將導(dǎo)致輔路輸出電壓比額定輸出值低較多。另外，值得注意的是，若主路突然由重載變?yōu)楹茌p負載或相反，將導(dǎo)致輔路電壓出現(xiàn)下衝或上衝。很明顯這意味著，主路的“大動作”將可能導(dǎo)致輔路工作異常。模塊本身可以加更大的假負載，當然這也會增加其損耗。在選擇電源模塊設(shè)計係統(tǒng)時，特彆對於多路輸出模塊，應(yīng)考慮輕負載問題。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時間
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。
輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。
因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然後根據(jù)樣品的失效機理和模型來推算產(chǎn)品在正常條件下的壽命?？煽啃允菍Ξa(chǎn)品耐久力的測量，我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。冷熱衝擊試驗用來測試材料結(jié)構(gòu)或複合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料等材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性。在研製階段可用於發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計和工藝缺陷，在有些情況下也可用於環(huán)境應(yīng)力篩選，剔除產(chǎn)品的早期故障。