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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修
sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

?位移量同步比較動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。如測(cè)量線位移和角位移的漸開(kāi)線齒形檢査儀、絲杠動(dòng)態(tài)檢査儀,以及測(cè)量角位移和角位移的齒形單麵齧合檢査儀、傳動(dòng)鏈測(cè)量?jī)x等。在這類(lèi)儀器中,測(cè)量角位移絕大多數(shù)用光柵式傳感器,測(cè)量線位移也多數(shù)用光柵式傳感器。?髙精度機(jī)床上的線位移和角位移測(cè)量。如高精度的光學(xué)坐標(biāo)鏜床、長(zhǎng)刻線機(jī)和圓刻線機(jī)等。?數(shù)控機(jī)床上的位移測(cè)量。當(dāng)前在數(shù)控機(jī)床的檢測(cè)係統(tǒng)中,光柵式傳感器用得很普遍,如數(shù)控車(chē)床、數(shù)控銑床,以及數(shù)控滾齒機(jī)等。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。據(jù)測(cè)算,僅江蘇一個(gè)省,每天因諧波而浪費(fèi)的電就有上億度。如何治理電氣中的諧波?既然諧波存在多方麵的危害,采取必要的有效手段,避免或補(bǔ)償已產(chǎn)生的諧波,就顯得尤為重要。諧波的治理可歸納為以下治理措施:加強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)和相應(yīng)規(guī)範(fàn)的宣傳貫徹。IEC61000以及國(guó)標(biāo)GB/T14549-1993,對(duì)於諧波定義、測(cè)量等進(jìn)行了宣傳,明確諧波治理是一項(xiàng)互惠互利、節(jié)能增效,是保證電網(wǎng)和設(shè)備**穩(wěn)定運(yùn)行的舉措;主管部門(mén)對(duì)所轄電網(wǎng)進(jìn)行係統(tǒng),正確測(cè)量,以確定諧波源位置和產(chǎn)生的原因,為諧波治理準(zhǔn)備充分的原始材料;在諧波產(chǎn)生起伏較大的地方,可設(shè)置長(zhǎng)期觀察點(diǎn),收集可靠的數(shù)據(jù)。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

一個(gè)良好的接地係統(tǒng),會(huì)給測(cè)量上減少很多不必要的麻煩,儀器設(shè)備要正常使用必須保證良好的接地,良好的接地有多種目的:有追求**的、有追求電路穩(wěn)定的,主要有如下幾點(diǎn):將機(jī)器接地,在漏電情況下可以使儀器殼體不會(huì)帶電,使用更加**;建立一個(gè)零電壓基準(zhǔn)點(diǎn)或者一個(gè)回路路徑給整合在一起的各訊號(hào),以達(dá)正常測(cè)量目的;接地良好可以有效電場(chǎng)和磁場(chǎng)的乾擾,包括外界對(duì)儀器的乾擾,儀器電源對(duì)測(cè)量的乾擾,儀器對(duì)外部的乾擾。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。OTA測(cè)試可以將產(chǎn)品內(nèi)部輻射乾擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法等因素考慮進(jìn)去,是非常接近產(chǎn)品實(shí)際使用場(chǎng)景的測(cè)試手段。我們以早的3GUESISOOTA測(cè)試為例來(lái)了解OTA測(cè)試所需的基本環(huán)境:吸波暗室,轉(zhuǎn)盤(pán)(控製UE旋轉(zhuǎn))天線(在某一固置接收UE輻射信號(hào))用於提供天線虛擬信號(hào)的無(wú)線測(cè)試平臺(tái)(如KeysightUXM係列,圖中未顯示)測(cè)量過(guò)程中將通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)來(lái)控製並測(cè)量UE天線在不同方向的輻射特性。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 無(wú)校驗(yàn)位,8位數(shù)據(jù)位,串口時(shí)序圖如所示為STM32串口外設(shè)檢測(cè)到起始位的條件,當(dāng)檢測(cè)到下降沿(3個(gè)高電平+1個(gè)低電平)並且采樣序列1和采樣序列2均為0時(shí),STM32檢測(cè)到一個(gè)起始位。每個(gè)位采樣16次,采樣點(diǎn)的間隔時(shí)間為tbit/16,tbit為每個(gè)位的時(shí)間,通信波特率為115.2kbps,則tbit=1/115.2k=8.68us,則采樣點(diǎn)的間隔時(shí)間為8.68us/16=0.5425us。STM32串口外設(shè)檢測(cè)到起始位的條件下麵以RSM485PCHT的門(mén)限電平為例進(jìn)行說(shuō)明,當(dāng)AB差分電壓處?kù)丁?00mV之內(nèi)時(shí),模塊RXD引腳輸出狀態(tài)不確定。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修


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