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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修
冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

室內(nèi)環(huán)境中計(jì)算機(jī)係統(tǒng)輻射頻譜的測(cè)量本次測(cè)量在正常的室內(nèi)電磁環(huán)境中進(jìn)行。受測(cè)試計(jì)算機(jī)係統(tǒng)放置在高1m的木質(zhì)測(cè)試臺(tái)上,遠(yuǎn)離可能的輻射源及金屬物體,顯示器數(shù)據(jù)線及電源線垂直地麵放置。采用HD0110LPDA7型對(duì)數(shù)周期天線,連接到TektronixWCA280A無(wú)線通信儀進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量分成兩個(gè)步驟,測(cè)量環(huán)境中的背景噪聲,然後讓計(jì)算機(jī)正常工作,顯示一幅圖片情況下,測(cè)量其輻射頻譜。室內(nèi)環(huán)境中背景噪聲頻譜測(cè)量關(guān)閉待測(cè)量的計(jì)算機(jī)係統(tǒng),測(cè)量環(huán)境中的背景噪聲。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。於是,為了進(jìn)一步減小解決方案的尺寸,有許多多輸出IC可供選擇。這些IC通常包括集成的MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET),同時(shí)至少要求配置有外部組件。而且,單就這些IC而言,其成本或許更為昂貴。通過(guò)減少生產(chǎn)過(guò)程中必須安裝到位的外部組件數(shù)量所獲得的收益,往往會(huì)抵消前期付出的高昂成本。采用何種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)呢?在如所示的實(shí)際應(yīng)用中,由於空間的限製,所以LDO將成為我們的。然而,由於功耗和效率的限製,實(shí)際情況並非總是如此。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

性能特點(diǎn):小管路取樣可對(duì)小容量注射劑直接檢測(cè),並可累計(jì)測(cè)試、打印出每容器微粒含量;采用激光光源傳感器,可直接檢測(cè)包括中藥針劑在內(nèi)的無(wú)色、有色澄明檢品;無(wú)需對(duì)檢品進(jìn)行電解質(zhì)調(diào)整;設(shè)有5ml和1-2ml自定義體積取樣檢測(cè)功能,也可滿足大輸液、輸液及其他領(lǐng)域液體中微粒檢測(cè)的要求;微電腦控製,智能化程度高,操作簡(jiǎn)便,測(cè)試數(shù)據(jù)及測(cè)試時(shí)間自動(dòng)處理打印輸出;設(shè)有檢品防塵窗口,攪拌速度隨機(jī)可調(diào)且不與容器磨擦,防止微粒汙染;設(shè)有進(jìn)樣狹縫反衝功能,可用不同的清潔液對(duì)狹縫進(jìn)行衝洗;用於注射液大容量、小容量、粉針劑,直接檢測(cè)無(wú)需另外計(jì)算、可直接打印報(bào)告。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。HALL開(kāi)環(huán)方案HALL閉環(huán)方案HALL開(kāi)環(huán)電流傳感器的確有一定的經(jīng)濟(jì)性,但是其較肥大的體積,要占用很大空間也越來(lái)越受到工程師的詬。尤其是在電動(dòng)汽車(chē)行業(yè),動(dòng)力模塊的小型化是各家車(chē)廠都競(jìng)相研究的方向。本文介紹一種電動(dòng)汽車(chē)芯片級(jí)的檢測(cè)方案----TMR(穿隧磁阻效應(yīng)),這種方案可實(shí)現(xiàn)級(jí)小體積的芯片來(lái)檢測(cè)銅排或者導(dǎo)線上電流,其精度、線性度、響應(yīng)速度和溫漂特性可以媲美HALL閉環(huán)方案,而且該方案的成本甚至比HALL開(kāi)環(huán)方案還有優(yōu)勢(shì)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 如果電源模塊的外圍電路設(shè)計(jì)使用不當(dāng),非但不能發(fā)揮模塊的優(yōu)勢(shì),還可能降低係統(tǒng)可靠性,本次我們就來(lái)談?wù)勔恍╇娫茨K外圍電路設(shè)計(jì)核心要點(diǎn)。兩級(jí)浪湧防護(hù)電路,使用不當(dāng)適得其反電源模塊體積小,在EMC要求比較高的場(chǎng)合,需要增加額外的浪湧防護(hù)電路,以提升係統(tǒng)EMC性能。如所示,為提高輸入級(jí)的浪湧防護(hù)能力,在外圍增加了壓敏電阻和TVS管。但圖中的電路、原目的是想實(shí)現(xiàn)兩級(jí)防護(hù),但可能適得其反。如果中MOV2的壓敏電壓和通流能力比MOV1低,在強(qiáng)乾擾場(chǎng)合,MOV2可能無(wú)法承受浪湧衝擊而提前損壞,導(dǎo)致整個(gè)係統(tǒng)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修


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