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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6純度分析儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6純度分析儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做
sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做

露點(diǎn)

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

2017年《電動(dòng)汽車傳導(dǎo)充電互操作性標(biāo)準(zhǔn)》征求意見終稿的發(fā)布,電動(dòng)汽車及充電樁行業(yè)即將具備一個(gè)詳細(xì)的測試標(biāo)準(zhǔn)。在這個(gè)測試標(biāo)準(zhǔn)的監(jiān)督下電動(dòng)汽車與充電樁的兼容匹配性將會(huì)大大提高。本文將為大家淺析交流樁的互操作性測試標(biāo)準(zhǔn)。測試系統(tǒng)組成標(biāo)準(zhǔn)中提及了交流充電樁測試系統(tǒng)的組成,如圖所示。主要包括車輛控制器模擬盒(測試交流充電樁的充電控制過程、異常充電狀態(tài)以及連接控制時(shí)序等)、交流電源(模擬電網(wǎng)供電特性)、負(fù)載(模擬電池消耗充電樁的輸出能量)、測試儀器(測量充電樁的電氣特性及控制信號(hào)狀態(tài)等)、主控機(jī)(控制車輛控制器模擬盒模擬充電過程的不同狀態(tài)、采集記錄測試儀器的測量數(shù)據(jù)生成測試報(bào)告)。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。樣品經(jīng)色譜柱分離后收集,再經(jīng)熒光分光光度計(jì)測熒光強(qiáng)度,影響因素多,測定復(fù)雜,改進(jìn)后的液相色譜-熒光法則可以不經(jīng)衍生化和收集分離物,只經(jīng)化學(xué)處理除雜,濃縮后直接進(jìn)樣即可。用該法測定貫葉連翹中金絲桃素的含量也取得了較好的結(jié)果。液相色譜-示差折光測黃芪精口服液中黃芪甲苷的含量也都取得了較為滿意的結(jié)果。對于只有紫外末端吸收,用紫外檢測時(shí)靈敏度低,基線易漂移,示差折光檢測其易受外界條件干擾,蒸發(fā)散射檢測器能克服以上不足,響應(yīng)值只與樣品質(zhì)量有關(guān),其信號(hào)相應(yīng)與質(zhì)量成正比,不同化合物,質(zhì)量相同則信號(hào)相應(yīng)基本一致。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做

5、測量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

但一般有哪些行之有效的降低紋波噪聲的對策呢?下面我們拋磚引玉,簡單討論常用的八個(gè)方法。電源PCB走線和布局反饋線路應(yīng)避開磁性元件、開關(guān)管及功率二極管。輸出濾波電容放置及走線對紋波噪聲至關(guān)重要,如所示,傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中由于到達(dá)每個(gè)電容的阻抗不一樣,所以高頻電流在三個(gè)電容中分配不均勻,改進(jìn)設(shè)計(jì)中可以看出每個(gè)回路長度相當(dāng)即高頻電流會(huì)均勻分配到每個(gè)電容中。如果PCB是多層板,可以選擇和主電流回路層近一層覆地,覆地可以有效的解決噪聲問題,注意,盡量保證覆地的完整性。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。電路板缺陷檢測包括兩部分:焊點(diǎn)缺陷檢測和元器件檢測,傳統(tǒng)的檢測采用人工檢測方法,容易漏檢、檢測速度慢、檢測時(shí)間長、成本高,已經(jīng)逐漸不能夠滿足生產(chǎn)需要。設(shè)計(jì)一種搭載工業(yè)相機(jī)以取代人眼的機(jī)器視覺電路板檢測系統(tǒng),具有非常重要的現(xiàn)實(shí)意義。機(jī)器視覺檢測技術(shù)是建立在圖像處理算法的基礎(chǔ)上,通過數(shù)字圖像處理與模式識(shí)別的方法來實(shí)現(xiàn),與傳統(tǒng)的人工檢測技術(shù)相比,提高了缺陷檢測的效率和準(zhǔn)確度。機(jī)器視覺系統(tǒng)一般采用CCD或CMOS工業(yè)相機(jī)攝取檢測圖像并轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào),再通過計(jì)算機(jī)軟、硬件技術(shù)對圖像數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理,從而得到所需要的目標(biāo)圖像特征值,并由此實(shí)現(xiàn)零件識(shí)別或缺陷檢測等多種功能。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 整個(gè)系統(tǒng)中測徑儀、安裝在鋼軸生產(chǎn)線的現(xiàn)場,主控機(jī)柜安放在控制室。測徑儀與主控機(jī)柜間由一根三芯電源線和一根光纜連接,測徑儀的供、斷電由主控機(jī)柜通過電源線實(shí)現(xiàn),測徑儀的數(shù)據(jù)信號(hào)通過光纜傳輸?shù)街骺貦C(jī)柜。測徑儀主要由下部測頭、上部測頭、測頭支板、直線導(dǎo)軌滑臺(tái)、步進(jìn)電機(jī)、外殼等組成。測頭采用我公司標(biāo)準(zhǔn)70測頭,單測頭測量范圍70mm,測量時(shí)鋼軸的上下跳動(dòng)在±35mm時(shí)均可正常測量。上部測頭安裝在直線導(dǎo)軌滑臺(tái)上,可根據(jù)被測鋼軸的外徑尺寸調(diào)整其與下部測頭的間距。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做


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