HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量

露點	測量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

X熒光光譜可以對固體，甚至液體、氣體中元素做快速定性定量的，對各材質(zhì)的絕大多數(shù)如金屬、合金、陶瓷、玻璃、玉石珠寶甚至?xí)?、顏料、油畫中的元素或微量元素含量做定性識別和定量。X射線熒光光譜在考古學(xué)中主要應(yīng)用在鑒定古物的年代、真?zhèn)巍a(chǎn)地、制作工藝等方面。X熒光光譜在考古中的應(yīng)用應(yīng)用一：的鑒定1）材質(zhì)鑒定有些用肉眼就可以分辨是陶器還是青銅器；有些用肉眼就不好分辨，考古學(xué)家們有時為一件是什么材質(zhì)爭論不休。1、連接SF₆設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手擰緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請關(guān)機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設(shè)備測量時間需要5～10分鐘，其后每臺設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。同樣的輸入輸出電壓、同樣的功率、同樣的封裝，不同廠家的電源模塊，哪個性能更好？對于一個性能優(yōu)良的電源模塊來說，需要測試的項目很多，而且這些性能之間是緊密聯(lián)系的，本文挑選其中幾個方面的性能進行對比闡述。穩(wěn)定可靠穩(wěn)定可靠性是根本，如果工作時電源模塊運行穩(wěn)定可靠都不能保證，其他性能也就別提了。從設(shè)計的角度來看，需要考慮當(dāng)模塊處于惡劣環(huán)境時模塊中每個器件電應(yīng)力和熱應(yīng)力在允許范圍內(nèi)并保證留有一定裕量，且在系統(tǒng)受到一定干擾時，應(yīng)保持穩(wěn)定。

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量后，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

受到兩部分鐵芯閉合程度的影響，電流鉗精度通常比互感器差。同樣地基于電磁感應(yīng)的電流鉗也只能測量交流?；诨魻栃?yīng)的電流鉗在鐵芯中加工一個氣隙放置霍爾元件。利用霍爾元件測量氣隙中的磁感應(yīng)強度，根據(jù)控制方式不同，有開環(huán)和閉環(huán)兩種類型。開環(huán)霍爾型使用線性度較好的霍爾元件，霍爾元件輸出電壓正比于被測電流。閉環(huán)霍爾型使用零磁通技術(shù)，鐵芯上有補償線圈。當(dāng)初級有被測電流在鐵芯中產(chǎn)生磁通時，霍爾元件檢測鐵芯中的磁感應(yīng)強度，通過負反饋將此誤差電壓轉(zhuǎn)換為電流驅(qū)動補償線圈，抵消鐵芯中的磁通，終被測電流與補償線圈產(chǎn)生的磁通量大小一致方向相反，通過測量補償線圈的電流即可按照匝數(shù)比換算出被測電流。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁面，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設(shè)備進行編號。

設(shè)備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。DM濾波器衰減了中頻段DM噪聲（2MHz至30MHz）近35dBμV/m。此外高頻段噪聲（30MHz至100MHz）也有所降低，但仍超過限制水平。這主要是因為DM濾波器對于高頻段CM噪聲的濾除能力有限。C5標準下的噪聲特性（帶DM濾波器）顯示了增加CM和DM濾波器后的噪聲特性。與相比，CM濾波器的增加降低了近20dBμV/m的CM噪聲。并且EMI性能也通過了CISPR25C5標準。C5標準下的噪聲特性（帶CM和DM濾波器）顯示了不同布局下帶CM和DM濾波器的噪聲特性，其中濾波器與相同。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 為了滿足傳導(dǎo)發(fā)射限制的要求，通常使用電磁干擾(EMI)濾波器來電子產(chǎn)品產(chǎn)生的傳導(dǎo)噪聲。但是怎么選擇一個現(xiàn)有的濾波器或者設(shè)計一個能滿足需要的濾波器?工程師表現(xiàn)得很盲目，只有憑借經(jīng)驗作嘗試。根據(jù)經(jīng)驗使用一個濾波器，如果不能滿足要求再重新修改設(shè)計或者換另一個新的濾波器。要找到一個合適的EMI濾波器就成為一個費時且高成本的任務(wù)。電子系統(tǒng)產(chǎn)生的干擾特性解決問題要了解電子系統(tǒng)產(chǎn)生的總干擾情況，需要多少干擾電壓才能滿足標準要求?共模干擾是多少，差模干擾是多少?只有明確了這些干擾特性我們才能根據(jù)實際的需要提出要求。