HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
廠家供應(yīng) 衝擊電壓發(fā)生裝置 充氣式試驗(yàn)變壓器 感應(yīng)耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

真的無(wú)法解決嗎？我看並非如此。這裡有兩個(gè)比較常用也比較好的解決辦法，改善主板電流，保持機(jī)子乾燥。隻要做到這兩點(diǎn)，相信紅外攝像機(jī)起霧問(wèn)題可以得到很好的解決。另一方麵，攝像頭起霧也和鏡頭有關(guān)係的，有的廠商為了降低成本，專采購(gòu)一些便宜的原料，就目前市場(chǎng)的產(chǎn)品而言，保守估計(jì)有50%的不合格產(chǎn)品。其實(shí)大家在講“起霧”，大部份並不是水氣，想想LED板那麼熱，一般除霧用的加熱器都冇它熱，水氣早被蒸發(fā)掉了?？雌饋?lái)像起霧，有幾個(gè)原因：鏡頭遮光圈漏光及冇跟玻璃密合，紅外光折射進(jìn)鏡頭，尤其4mm嚴(yán)重；機(jī)板本身參數(shù)不對(duì)，如果隻是拿一般機(jī)板換個(gè)濾光片就拿來(lái)用，肯定出問(wèn)題，白茫茫一片，但白天還行；老問(wèn)題：過(guò)熱，CCD白底往上浮，看起來(lái)就發(fā)白霧了；水霧主要是防水不夠好，再加上空氣的潮濕，紅外燈及CCD板工作時(shí)產(chǎn)生熱量就導(dǎo)致水霧，起霧應(yīng)該是攝像機(jī)裡麵的濕氣在機(jī)子溫度快速上升所致，同外界溫度差距大時(shí)為嚴(yán)重。

衝擊測(cè)試係統(tǒng)係應(yīng)用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試係依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

係統(tǒng)基於全製式全覆蓋的測(cè)試能力可解決物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)鏈的測(cè)試難題，具體包括芯片模組測(cè)試、綜合測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試等多個(gè)環(huán)節(jié)。典型測(cè)試場(chǎng)景如下：發(fā)射機(jī)指標(biāo)測(cè)試：UE發(fā)射功率UE指的是NB-IOT的終端產(chǎn)品，包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的終端。UE占用帶寬，占用帶寬指的是分配信道之內(nèi)測(cè)量的99%積分平均功率時(shí)對(duì)應(yīng)的信號(hào)帶寬。NB-IOT下行信號(hào)占用帶寬典型測(cè)試UE發(fā)射ACLR相鄰信道泄漏比，這個(gè)測(cè)來(lái)判定終端產(chǎn)品是否有可能對(duì)相鄰(或高或低)信道中的接收機(jī)產(chǎn)生乾擾。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控製電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控製方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控製

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控製調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

測(cè)試項(xiàng)目:RFID測(cè)試主要是對(duì)讀寫(xiě)器和標(biāo)簽之間通信的無(wú)線電訊號(hào)進(jìn)行測(cè)量，以此評(píng)估RFID讀寫(xiě)器的工作狀態(tài)和性能指標(biāo)。本次測(cè)試對(duì)象是低頻RFID讀寫(xiě)模塊，射頻信號(hào)頻率125KHz，支持識(shí)彆EM4001/4002及兼容的ID卡。當(dāng)識(shí)彆到ID片時(shí)，模塊TXD管腳會(huì)輸出卡號(hào)信息，信號(hào)類型為TTL-RS232信號(hào)。測(cè)量目標(biāo):射頻信號(hào)的載波頻率，輸出功率，占用帶寬，信道功率等選用儀器:選用鼎陽(yáng)科技SSA3000X頻譜儀，SPD3303X-E線性直流電源和SDS1204X-E超級(jí)熒光示波器，分彆用於測(cè)量、供電和信號(hào)。